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電気製品で断線による故障が発生する場合があります。配線の周囲が不透明な樹脂などで覆われていると、どこで断線が発生しているか、外観検査だけで探すことは困難です。そ・・・
パワー半導体の普及に向け、低欠陥のSiCウェーハの開発が進められています。 今回、SiCウェーハに形成されたエッチピットを3次元X線顕微鏡(X線CT)で観察した・・・
電子部品は、外部環境あるいは自己発熱により、繰り返しの温度変化にさらされます。 その耐久性試験として、温度サイクル試験(TCT)と超音波顕微鏡(SAM)を組み合・・・
電子部品は、外部環境あるいは自己発熱により、繰り返しの温度変化にさらされます。 その耐久性試験として、熱衝撃試験(TST)と3次元X線顕微鏡(X線CT)を組み合・・・
試料の内部をX線で透過して観察することにより、試料を分解することなく非破壊で観察できます。
次世代の水素燃料電池として、固体高分子燃料電池の実用化に向けた開発が急速に進められています。電池を構成する部材の選定から燃料電池の設計指針策定や劣化メカニズムの・・・
半導体デバイスの故障解析の手順として、故障発生状況の調査、外観観察および電気特性を取得し、故障メカニズムを推測します。次に、非破壊検査や故障特定を行なった後、さ・・・
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