- 略語集
| 略語 | 英語【手法・装置】 | 日本語 |
|---|---|---|
| 3DAP(APT) | 3 Dimensional Atom Probe | 3次元アトムプローブ |
| AAS | Atomic Absorption Spectrometry | 原子吸光分析 |
| AEM | Analytical Electron Microscope | 分析電子顕微鏡 |
| AFM | Atomic Force Microscope | 原子間力顕微鏡 |
| ALD | Atomic Layer Deposition | 原子層堆積法 |
| APT(3DAP) | Atom Probe Tomography | 3次元アトムプローブ |
| CBED | Convergent-Beam Electron Diffraction | 収束電子回折 |
| DSC | Differential Scanning Calorimetry | 示差走査熱量測定 |
| EBSD | Electron BackScatter Diffraction (Pattern) | 電子後方散乱回折(パターン) |
| EDS(EDX) | Energy Dispersive X-ray Spectroscopy | エネルギー分散型X線分光 |
| EELS | Electron Energy Loss Spectroscopy | 電子エネルギー損失分光 |
| EPMA | Electron Probe X-ray MicroAnalysis | 電子プローブX線マイクロアナリシス |
| FIB | Focused Ion Beam | 集束イオンビーム |
| FL-AAS | Flameless - Atomic Absorption Spectrometry | フレームレス原子吸光分析 |
| FT-IR | Fourier Transform - Infrared Spectroscopy | フーリエ変換赤外分光 |
| GC | Gas Chromatography | ガスクロマトグラフィー |
| GC/FID | Gas Chromatography / Flame Ionization Detector | ガスクロマトグラフィー水素炎イオン化検出法 |
| GC/FPD | Gas Chromatography / Flame Photometric Detector | ガスクロマトグラフィー炎光光度検出法 |
| GC/MS | Gas Chromatography / Mass Spectrometry | ガスクロマトグラフィー質量分析 |
| GC/TCD | Gas Chromatography / Thermal Conductivity Detector | ガスクロマトグラフィー熱伝導度型検出法 |
| HAADF | High-angle Annular Dark Field | 高角度散乱環状暗視野法 |
| HAXPES | Hard X-ray Photoelectron Spectroscopy | 硬X線光電子分光 |
| IC | Ion Chromatography | イオンクロマトグラフィー |
| ICP-MS | Inductively Coupled Plasma - Mass Spectrometry | 誘導結合プラズマ質量分析 |
| ICP-OES | Inductively Coupled Plasma - Optical Emission Spectrometry | 誘導結合プラズマ発光分光分析 |
| LC | Liquid Chromatography | 液体クロマトグラフィー |
| LC/MS | Liquid Chromatography / Mass Spectrometry | 液体クロマトグラフィー質量分析 |
| LC/MS/MS | Liquid Chromatography / Tandem Mass Spectrometry | 液体クロマトグラフィータンデム質量分析 |
| LC/TOF-MS | Liquid Chromatography / Time of Flight Mass Spectrometry | 液体クロマトグラフィー飛行時間型質量分析 |
| NBD | Nano Beam Electron Diffraction | ナノビーム電子回折 |
| OBIRCH | Optical Beam Induced Resistance Change | 光ビーム加熱抵抗変動 |
| OM | Optical Microscope | 光学顕微鏡 |
| PEM(EMS) | Photo Emission Microscope | エミッション顕微鏡 |
| PVC | Passive Voltage Contrast | 電位コントラスト |
| Py-GC/MS | Pyrolysis - Gas Chromatography / Mass Spectrometry | 熱分解ガスクロマトグラフィー質量分析 |
| Py/TD-GC/MS | Pyrolysis / Thermal Desorption - Gas Chromatography / Mass Spectrometry | 熱分解/熱抽出・ガスクロマトグラフィー質量分析 |
| RIE | Reactive Ion Etching | 反応性イオンエッチング |
| Raman | Raman Spectroscopy | ラマン散乱分光 |
| SAM | Scanning Acoustic Microscope | 超音波顕微鏡 |
| SAT | Scanning Acoustic Tomograph | 超音波映像装置 |
| SAXS | Small Angle X-ray Scattering | X線小角散乱 |
| SCM | Scanning Capacitance Microscope | 走査型静電容量顕微鏡 |
| SEC | Size Exclusion Chromatography | サイズ排除クロマトグラフィー |
| SEM | Scanning Electron Microscope | 走査電子顕微鏡 |
| SIMS | Secondary Ion Mass Spectrometry | 二次イオン質量分析 |
| SPM | Scanning Probe Microscope | 走査型プローブ顕微鏡 |
| STEM | Scanning Transmission Electron Microscope | 走査透過電子顕微鏡 |
| SWA-GC/MS | Silicon Wafer Analyzer - Gas Chromatography / Mass Spectrometry | シリコンウェーハ分析－ガスクロマトグラフィー質量分析 |
| TD-GC/MS | Thermal Desorption - Gas Chromatography / Mass Spectrometry | 熱抽出・ガスクロマトグラフィー質量分析 |
| TDS | Thermal Desorption Spectrometry | 昇温脱離ガス分析 |
| t-EBSD(TKD) | Transmission Electron BackScattered Diffraction Pattern | 透過電子線後方散乱回折 |
| TED | Transmission Electron Diffraction | 電子回折 |
| TEM | Transmission Electron Microscope | 透過電子顕微鏡 |
| TG-DTA | Thermogravimetry - Differential Thermal Analysis | 熱重量・示差熱同時分析 |
| TG-DTA/MS | Thermogravimetry - Differential Thermal Analysis / Mass Spectrometry | 熱重量・示差熱同時分析/質量分析 |
| TKD(t-EBSD) | Transmission Kikuchi Diffraction | 透過菊池線回折 |
| TMA | Thermomechanical Analysis | 熱機械分析 |
| TOC | Total Organic Carbon Analysis | 全有機炭素分析 |
| TOF-SIMS | Time of Flight - Secondary Ion Mass Spectrometry | 飛行時間型二次イオン質量分析 |
| TPD-MS | Temperature Programmed Desorption Mass Spectrometry | 加熱発生ガス質量分析 |
| UMT | Ultramicrotome | ウルトラミクロトーム |
| UPS | Ultraviolet Photoelectron Spectroscopy | 紫外線光電子分光 |
| UV/VIS | Ultraviolet / Visible Spectroscopy | 紫外可視分光 |
| WDS | Wavelength Dispersive X-ray Spectroscopy | 波長分散型X線分光 |
| XPS | X-ray Photoelectron Spectroscopy | X線光電子分光 |
| XRD | X-ray Diffraction | X線回折 |
| XRF | X-ray Fluorescence Spectrometry | 蛍光X線分析 |
| µXRF | Micro Focused X-ray Fluorescence Spectrometry | 微小部蛍光X線分析 |
| XRR | X-ray Reflectivity | X線反射率測定 |
| XRT | X-ray Topography | X線トポグラフィー |
[ 更新日:2025/06/24 ]
