腐食の原因となる硫黄系ガスの発生源特定Source Analysis of Sulfur Based Gas Causing Corrosionl

電子部品の配線・電極などの金属は、材料や梱包材、大気中に存在する硫黄系ガスにより腐食して不具合に至る可能性があります。特に銀は硫黄系ガスに対して敏感で、極微量の硫黄系ガスで腐食します。当社では、目的・濃度・成分に応じて、適切なサンプリング・手法選択を行い、微量の硫黄系ガスの高感度分析をご提供できます。

事例 電極腐食分析 (XRF)

腐食が見られた電極部をXRFで非破壊元素分析した結果、硫黄を検出しました。
腐食部は硫化していることが分かりました。

腐食部プロファイル

事例 部材や梱包材のアウトガス分析:硫化水素 H2S
(GC/MS)

硫黄の発生源として疑われる段ボールのアウトガスをGC/MSで分析しました。

段ボールのアウトガスイメージ
段ボールのアウトガスのGC/MS分析

腐食発生有りの段ボールからは、無し段ボールに比べ10倍の硫化水素を検出しました。
段ボールから発生する硫化水素により、腐食していると推測します。

事例 樹脂中の添加剤の分析:還元性硫黄成分 S8
(TD-GC/MS)

樹脂中の添加剤(加硫剤)であるS8が腐食に影響することも報告されています。
この成分については、TD-GC/MSで分析が可能です。

樹脂中の添加剤の分析イメージ
GC/MS定性結果(マススペクトル)

クリーンルーム内や装置環境内の硫黄系化合物も高感度で測定が可能です。

[ 更新日:2022/03/30 ]

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