サイトマップ
お問い合わせ
このページでは JavaScript を使用している部分があります。お使いのブラウザーがこれらの機能をサポートしていない場合、もしくは設定が「有効」となっていない場合は正常に動作しないことがあります。
レーザ顕微鏡・触針式段差計・AFMは、それぞれ原理が異なる表面形状を測定する技術です。各手法の非接触・広視野、高精度接触測定の特徴を活用し、材料や用途に応じた最･･･
SCMは半導体のキャリア分布を2次元で可視化できる手法で、SPMの応用の一つです。
ICチップ内の多層配線やSi基板の故障箇所を特定するために、SEMで電位コントラスト(PVC)の違いを観察します。
レイヤー解析とは、ICチップ内の各層(レイヤー)の観察と除去を繰り返して、異常の有無を確認する手法です。
受託分析サービス動画配信 随時更新します!
Webカタログ ダウンロード
論文
略語集
申込書・問い合わせ書 ダウンロード
よくあるご質問
依頼に関するお問い合わせ
入力フォームはこちらから
