電子部品の温度サイクル試験Temperature Cycling Test for Electronic Components
温度サイクル試験(TCT)は、電子部品の外部環境あるいは自己発熱により、温度が繰り返し変化する環境を想定し、温度変化による熱ストレスを与えて耐性を確認する環境試験です。
温度サイクル試験
電子部品は、熱膨張係数が異なる様々な材料によって構成されています。 このため、熱膨張係数の違いによる 応力が発生し、不具合が生じる場合があります。
温度サイクル試験は、指定された低温と高温に順次変化する環境に試験品を置き、指定されたサイクル数のストレスを加える環境試験の一つです。
対応規格
- JIS C60068-2-14(IEC 60068-2-14)
『環境試験方法－電気・電子－第2-14部 : 温度変化試験方法(試験記号 : Ｎ)』 - JEITA EIAJ ED-4701/100A
『半導体デバイスの環境及び耐久性試験方法(寿命試験I)』
試験方法105 『温度サイクル試験』 - JEDEC JESD22-A104 『TEMPERATURE CYCLING』
- MIL-STD-883 METHOD 1010 『TEMPERATURE CYCLING』
[ 更新日:2025/04/24 ]
