車載向け半導体デバイスの信頼性試験Reliability Test of Semiconductor Devices for Automotive

車載向け半導体デバイスの信頼性試験では、AEC-Q100、AEC-Q101に準拠した試験にご対応します。

車載向け半導体デバイスの信頼性試験

車載向け 信頼性試験受託項目
名称 試験内容 規格
HTSL 高温放置試験 JESD22-A103
TH 高温高湿試験 JESD22-A101
AC オートクレーブ試験 JESD22-A102
HAST HAST試験 JESD22-A110
TC 温度サイクル試験 JESD22-A104
HTOL 高温動作試験 JESD22-A108
THB 高温高湿動作試験 JESD22-A101
PTC パワー温度サイクル試験 JESD22-A105
PC はんだ耐熱性試験 JESD22-A113
WBS ワイヤシェア強度試験 JESD22-A116
WBP ワイヤプル強度試験 MIL-STD883

[ 更新日:2022/03/30 ]

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