車載向け半導体デバイスの信頼性評価試験Reliability Test of Semiconductor Devices for Automotive
車載向け半導体デバイスの信頼性評価試験では、AEC-Q100、AEC-Q101に準拠した試験にご対応します。
車載向け半導体デバイスの信頼性評価試験
| 名称 | 試験内容 | 規格 |
|---|---|---|
| HTSL | 高温放置試験 | JESD22-A103 |
| TH | 高温高湿試験 | JESD22-A101 |
| AC | オートクレーブ試験 | JESD22-A102 |
| HAST | HAST試験 | JESD22-A110 |
| TC | 温度サイクル試験 | JESD22-A104 |
| HTOL | 高温動作試験 | JESD22-A108 |
| THB | 高温高湿動作試験 | JESD22-A101 |
| PTC | パワー温度サイクル試験 | JESD22-A105 |
| PC | はんだ耐熱性試験 | JESD22-A113 |
| WBS | ワイヤシェア強度試験 | JESD22-A116 |
| WBP | ワイヤプル強度試験 | MIL-STD883 |
[ 更新日:2025/04/24 ]
