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LEDに使用される各種蛍光体粒子において、蛍光発光させた状態で顕微鏡観察を行い、各色蛍光体粒子の分布状態や発光色ごとの蛍光体粒子の成分が確認できます。
任意の位置で断面加工を行い、LED内部に充填された樹脂にダメージを与えずに、ご希望の断面を取得します
[ 更新日:2022/03/30 ]
走査電子顕微鏡(SEM)は、試料の表面に電子線を照射して観察することにより、微細な表面形状や組成、結晶方位を観察することができます。
東芝ナノアナリシス株式会社の「実装解析」を紹介するページです。
基板実装解析東芝ナノアナリシス株式会社の「実装解析」を紹介するページです。 半導体パッケージ・実装解析故障解析半導体パッケージ・実装・・・
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