【出展しました】第45回ナノテスティングシンポジウム(2025/11/11-13)

東芝ナノアナリシスは、2025年11月11日(火)-13日(木)に開催された第45回ナノテスティングシンポジウムにてポスターを出展しました。

◎今回ご紹介した技術内容
　『半導体のナノレベル物理分析』
　　・SiC n-バッファ層の窒素濃度分析
　　・3DAP・STEM・SIMSによるLED複合分析
　　・XRTとTEMによるSiC素子の貫通転位の分析

ご来場いただいた皆様には、厚く御礼申し上げます。

[ 更新日:2025/11/14 ]