【出展しました】The Scientific International Symposium on SIMS and Related Techniques Based on Ion-Solid Interactions -24(2025/6/18-20)

東芝ナノアナリシスは、2025年6月18日(水)-20(金)に開催された『The Scientific International Symposium on SIMS and Related Techniques Based on Ion-Solid Interactions -24』にてポスターを出展しました。

今回ご紹介した内容
　・放射光トポグラフィーによる欠陥評価
　・STEMと3DAPによるSiC MOSFET複合分析
　・Al合金のGa-FIB・Xe-プラズマFIB加工比較

ご来場いただいた皆様には、厚く御礼申し上げます。

[ 更新日:2025/06/23 ]