【出展しました】第44回ナノテスティングシンポジウム(2024/11/12-14)

東芝ナノアナリシスは、2024年11月12日(火)-14日(木)に開催された第44回ナノテスティングシンポジウムにてポスターを出展しました。

◎今回ご紹介した技術内容
　『ナノレベル物理分析』
　　・ウェーハベベル評価技術
　　・全反射HAXPESの応用事例
　　・3DAPとSTEMを用いた特定箇所の分析

ご来場いただいた皆様には、厚く御礼申し上げます。

[ 更新日:2024/11/15 ]