【出展しました】第46回ナノテスティングシンポジウム(2026/11/10-12)

東芝ナノアナリシスは、2026年11月10日(火)-12日(木)に開催された『第46回ナノテスティングシンポジウム』にてポスターを出展しました。

◎今回ご紹介した技術内容
　『半導体のナノレベル物理分析』
　　・3DAP・STEM・SIMSによるLED複合分析
　　・どこで故障したか見たい！
　　・SJ-MOSFETのデバイス解析
　　・先端ロジックデバイスのSTEM構造解析

ご来場いただいた皆様には、厚く御礼申し上げます。

[ 更新日:2026/11/13 ]