【出展・講演しました】第3回[九州]半導体産業展(2026/09/30,10/1)

東芝ナノアナリシスは、2026年9月30日,10月1日に開催された『第3回[九州]半導体産業展』にて出展・講演いたしました。

今回ご紹介した内容
　○セミナー講演
　　半導体故障解析の実践プロセス ～手順・手法から3D解析事例まで～
　○展示会
　　・スタッドシェア試験による薄膜密着性評価　
　　・3DAPとSTEMを用いた特定箇所の分析
　　・飛行時間型二次イオン質量分析(TOF-SIMS)
　　・電子デバイス・材料の非破壊観察
　　・先端ロジックデバイスのSTEM構造解析
　　・半導体材料向け分析サービスのご紹介

ご来場いただいた皆様には、厚く御礼申し上げます。

[ 更新日:2026/10/02 ]