【講演・出展しました】第43回ナノテスティングシンポジウム(2023/11/7-9)

東芝ナノアナリシスは、2023年11月7日(火)-9日(木)に開催された『第43回ナノテスティングシンポジウム』において、講演ならびに付設展示でポスターを展示しました。

◎今回ご紹介した講演・出展内容
　◆講演
　　● 半導体デバイス評価へのアトムプローブ技術の発展
　◆出展
　　● ウェーハベベル評価技術
　　● SiC MOSFETのデバイス解析
　　● 全反射HAXPESの応用事例
　　● 3DAPとSTEMを用いた特定箇所の分析

ご来場いただいた皆様には、厚く御礼申し上げます。

今回ご紹介させていただいた技術以外の分野にご興味をお持ちの場合など、お気軽にお問い合わせください。

[ 更新日:2023/11/10 ]