【ポスター講演・出展しました】The Scientific International Symposium on SIMS and Related Techniques Based on Ion-Solid Interactions -22(2023/6/15,16)

東芝ナノアナリシスは、2023年6月15日(木)・16(金)に開催された『The Scientific International Symposium on SIMS and Related Techniques Based on Ion-Solid Interactions -22』において、ポスター講演ならびに付設展示に出展しました。

今回ご紹介した内容
　○ポスター講演
　　High-depth resolution and high-sensitivity evaluation of SiC power devices by SIMS
　○展示会
　　・極低エネルギー二次イオン質量分析
　　・3DAP・STEM・SIMSによるLED複合分析
　　・鉱物のアトムプローブ分析 

ご来場いただいた皆様には、厚く御礼申し上げます。

[ 更新日:2023/06/19 ]