【講演・出展しました】14th International Symposium on Atomic Level Characterizations for New Materials and Devices '22(2022/10/16-21)

東芝ナノアナリシスは、2022年10月16日(日)-21日(金)に開催された『14th International Symposium on Atomic Level Characterizations for New Materials and Devices '22』において、講演ならびに付設展示でポスターを展示しました。

◎今回ご紹介した講演・出展内容
　◆講演
　　●Total Reflection Hard X-ray Photoelectron Spectroscopy
　　●Applying Atom Probe Tomography to Geological Samples：Synthetic Olivine Minerals
　◆出展
　　●鉱物のアトムプローブ分析
　　●放射光HAXPESによる埋もれた界面の評価
　　●ラボ型硬X線光電子分光(HAXPES)

ご来場いただいた皆様には、厚く御礼申し上げます。

今回ご紹介させていただいた技術以外の分野にご興味をお持ちの場合など、お気軽にお問い合わせください。

[ 更新日:2022/10/24 ]