規格認証・認定

ISO 9001 品質マネジメントシステム認証 登録情報

  • 組織名
    東芝ナノアナリシス株式会社
  • 所在地
    神奈川県川崎市幸区 小向東芝町1番地
  • 認証機関名
    株式会社 日本環境認証機構
    (JACO:ジェイコ)
  • 登録番号
    QC04J0082
  • 規格
    ISO 9001:2015
    JIS Q 9001:2015
  • 登録日
    2000-01-21
  • 有効期限
    2024-01-20
  • 登録範囲
    半導体、FPD等の電子部品とこれらの材料及び環境等の分析、評価

登録マーク及び認定シンボル

ISO 9001認証範囲について(1,289 KB)

JAB(公益法人 日本適合性認定協会)のホームページで当社の認証取得情報を確認できます。
http://www.jab.or.jp/のマネジメントシステム認証/適合組織検索

ISO/IEC 17025 試験所認定 電気試験(環境試験)

機関名称
東芝ナノアナリシス株式会社
半導体評価 試験所
認定番号
RTL02060
認定登録証発行日
2006-11-27
認定登録証更新日
2018-10-01
有効期限
2022-11-30

試験を実施する事業所

事業所名称
東芝ナノアナリシス株式会社
半導体評価 試験所
事業所所在地
神奈川県川崎市幸区小向東芝町1番地

認定範囲

M21 電気試験
M21.5 環境試験
M21.5.1 低温(耐寒性)試験
  • JIS C 60068-2-1 試験 Ab (6.8, 6.10, 6.13を除く)
  • IEC 60068-2-1 試験 Ab (6.8, 6.10, 6.13を除く)
    -65 ℃ ≦ 試験温度 ≦ 5 ℃
  • JEDEC Standard 22-A119 Condition A,B,C(3.2,3.3を除く)
M21.5.2 高温(耐熱性)試験
  • JIS C 60068-2-2 試験 Bb (6.7, 6.9, 6.13を除く)
  • IEC 60068-2-2 試験 Bb (6.7, 6.9, 6.13を除く)
    55 ℃ ≦ 試験温度 ≦ 200 ℃
  • AEC-Q100 表2#A6 Grade0,1,2,3 (Accept Criteriaを除く)
    試験方法:JEDEC Standard 22-A103 Condition A,B,C,D (4.2,4.3を除く)
M21.5.3 温度変化試験
  • JIS C 60068-2-14 試験 Na (6.1, 6.2を除く)
  • IEC 60068-2-14 試験 Na (6.1, 6.2を除く)
    (低温) -65 ℃ ≦ 試験温度 ≦ -5 ℃
    (高温) 60 ℃ ≦ 試験温度 ≦ 150 ℃
  • AEC-Q100 表2#A4 Grade0,1,2,3 (Accept Criteria, WBP (#C2)を除く)
    試験方法:JEDEC Standard 22-A104 Condition B,C,H (5.7.2, 5.8, 5.9, 6を除く)
M21.5.3 温度変化試験
  • JIS C 60068-2-14 試験 Nc (6.1, 6.2を除く)
  • IEC 60068-2-14試験 Nc (6.1, 6.2を除く)
    (低温) -40 ℃ ≦ 試験温度 ≦ -5 ℃
    (高温) 70 ℃ ≦ 試験温度 ≦ 150 ℃
M21.5.5 高温高湿定常試験
  • JIS C 60068-2-67 (6, 8, 10を除く)
  • IEC 60068-2-67 (6, 8, 10を除く)
    試験条件:温度 85℃、 湿度 85%RH
  • AEC-Q100 表2#A3 (Accept Criteriaを除く)
    試験方法:JEDEC Standard 22-A101 (3.2, 4,4, 4.5, 5を除く)

JAB(公益法人 日本適合性認定協会)のホームページで当社の認定取得情報を確認できます。
http://www.jab.or.jp/ のマネジメントシステム認証/適合組織検索

ISO/IEC 17025 試験所認定 化学試験

機関名称
東芝ナノアナリシス株式会社
化学分析技術センター
認定番号
RTL03460
認定登録証発行日
2011-12-09
認定登録証更新日
2019-11-25
有効期限
2023-12-31

試験を実施する事業所

事業所名称
東芝ナノアナリシス 株式会社
化学分析技術センター
事業所所在地
神奈川県横浜市磯子区新杉田町8番地

認定範囲

M26 化学試験
M26.A5/B2.1
セラミック 吸光光度分析
(赤外分光分析)
  • JIS R 1603 10 一部変更(定量範囲上限を拡張)
    0.2%(質量分率)≦ O ≦6%(質量分率)
  • JIS R 1603 11.3
    0.01%(質量分率)≦ C ≦0.4%(質量分率)
M26.A5/B2.4
セラミック 発光分光分析
(ICP-AES)
  • JIS R 1603 9 一部変更(定量範囲上限を拡張)
    0.2%(質量分率)≦ Al ≦5.0%(質量分率)
    0.002%(質量分率)≦ Ca ≦0.05%(質量分率)
  • JIS R 1603 9
    0.002%(質量分率)≦ Fe ≦0.05%(質量分率)
  • JIS R 1603 9 一部変更(分析種を追加)
    0.2%(質量分率)≦ Y ≦5.0%(質量分率)
    0.01%(質量分率)≦ Ti ≦1.0%(質量分率)
    0.001%(質量分率)≦ Mg ≦0.1%(質量分率)

JAB(公益法人 日本適合性認定協会)のホームページで当社の認定取得情報を確認できます。
http://www.jab.or.jp/ のマネジメントシステム認証/適合組織検索

ISO 45001 労働安全衛生マネジメントシステム認証 登録情報

組織名
東芝ナノアナリシス株式会社
所在地
神奈川県川崎市幸区小向東芝町1番地
認証機関名
株式会社 日本環境認証機構 (JACO:ジェイコ)
登録番号
WC09J0001
規格
ISO 45001:2018
JIS Q 45001:2018
登録日
2009-04-07
有効期限
2024-04-06
登録範囲
半導体、液晶等の電子部品とこれらの材料及び環境等の分析、評価

ISO 14001 環境マネジメントシステム認証 登録情報

組織名
東芝デバイス&ストレージ株式会社 グループ
※「姫路分析評価センター」は
以下、構成組織名称の範囲に含まれています。
構成組織名
東芝デバイス&ストレージ株式会社 姫路半導体工場
認証機関名
株式会社日本環境認証機構 (JACO:ジェイコ)
所在地
兵庫県揖保郡太子町鵤300番地
登録番号
EC98J2014
構成組織明示
登録証番号
EC98J2014-2
登録日
1996-02-02
有効期限
2022-08-07
規格
ISO 14001:2015
JIS Q 14001:2015
登録範囲
半導体及びHDD製品の開発・生産・販売事業並びにその関連事業

[ 更新日:2022/03/30 ]

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