- ISO 9001 認証取得
- ISO/IEC 17025 試験所認定
- 電気試験(環境試験) 東芝ナノアナリシス株式会社 半導体評価 試験所
- ISO 45001 認証取得
- ISO 14001 構成組織認証
ISO 9001 品質マネジメントシステム認証 登録情報
-
- 組織名
- 東芝ナノアナリシス株式会社
-
- 所在地
- 神奈川県川崎市幸区 小向東芝町1番地
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- 認証機関名
- 株式会社 日本環境認証機構
(JACO:ジェイコ)
-
- 登録番号
- QC04J0082
-
- 規格
- ISO 9001:2015
JIS Q 9001:2015
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- 登録日
- 2000-01-21
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- 有効期限
- 2027-01-20
-
- 登録範囲
- 半導体、FPD等の電子部品とこれらの材料及び環境等の分析、評価
ISO 9001認証範囲について(1,289 KB)
JAB(公益法人 日本適合性認定協会)のホームページで当社の認証取得情報を確認できます。
http://www.jab.or.jp/のマネジメントシステム認証/適合組織検索
ISO/IEC 17025 試験所認定 電気試験(環境試験)
- 機関名称
- 東芝ナノアナリシス株式会社
半導体評価 試験所
- 認定番号
- RTL02060
- 認定登録証発行日
- 2006-11-27
- 認定登録証更新日
- 2022-12-01
- 有効期限
- 2026-11-30
試験を実施する事業所
- 事業所名称
- 東芝ナノアナリシス株式会社
半導体評価 試験所
- 事業所所在地
- 神奈川県川崎市幸区小向東芝町1番地
認定範囲
- M21 電気試験
M21.5 環境試験
M21.5.1 低温(耐寒性)試験 -
- JIS C 60068-2-1 試験 Ab (6.8, 6.10, 6.13を除く)
- IEC 60068-2-1 試験 Ab (6.8, 6.10, 6.13を除く)
-40 ℃ ≦ 試験温度 ≦ 5 ℃ - JEDEC Standard 22-A119 Condition A (3.2,3.3を除く)
- M21.5.2 高温(耐熱性)試験
-
- JIS C 60068-2-2 試験 Bb (6.7, 6.9, 6.13を除く)
- IEC 60068-2-2 試験 Bb (6.7, 6.9, 6.13を除く)
55 ℃ ≦ 試験温度 ≦ 200 ℃ - AEC-Q100 表2#A6 Grade0,1,2,3 (Accept Criteriaを除く)
試験方法:JEDEC Standard 22-A103 Condition A,B,C,D (4.2,4.3を除く) - AEC-Q100 表2#B1 Grade0,1,2,3(Accept Criteriaを除く)
試験方法:JEDEC Standard 22-A108(6,7を除く)
- M21.5.3 温度変化試験
-
- JIS C 60068-2-14 試験 Na (6.1, 6.2を除く)
- IEC 60068-2-14 試験 Na (6.1, 6.2を除く)
(低温) -65 ℃ ≦ 試験温度 ≦ -5 ℃
(高温) 60 ℃ ≦ 試験温度 ≦ 150 ℃ - AEC-Q100 表2#A4 Grade0,1,2,3 (Accept Criteria, WBP (#C2)を除く)
試験方法:JEDEC Standard 22-A104 Condition B,C,H (5.7.2, 5.8, 5.9, 6を除く) - AEC-Q100 表2#A5 Grade0,1,2,3(Accept Criteriaを除く)
試験方法:JEDEC Standard 22-A105(4.4,5を除く)
- M21.5.3 温度変化試験
-
- JIS C 60068-2-14 試験 Nc (6.1, 6.2を除く)
- IEC 60068-2-14試験 Nc (6.1, 6.2を除く)
(低温) -40 ℃ ≦ 試験温度 ≦ -5 ℃
(高温) 70 ℃ ≦ 試験温度 ≦ 150 ℃
- M21.5.5 高温高湿定常試験
-
- JIS C 60068-2-67 (6, 8, 10を除く)
- IEC 60068-2-67 (6, 8, 10を除く)
試験条件:温度 85℃、 湿度 85%RH - AEC-Q100 表2#A3 (Accept Criteriaを除く)
試験方法:JEDEC Standard 22-A101 (3.2, 4,4, 4.5, 5を除く)
- M21.5.31 表面実装部品のはんだ付け性、電極の耐はんだ食われ性及びはんだ耐熱性試験
-
- AEC-Q100 表2#A1(Accept Criteria を除く)
試験方法:JEDEC Standard 22-A113 (4.3,4.4,4.7,5.1,5.2,5.6.1,5.7,5.8,5.9,5.10,5.11を除く)
- AEC-Q100 表2#A1(Accept Criteria を除く)
JAB(公益法人 日本適合性認定協会)のホームページで当社の認定取得情報を確認できます。
http://www.jab.or.jp/ のマネジメントシステム認証/適合組織検索
ISO 45001 労働安全衛生マネジメントシステム認証 登録情報
- 組織名
- 東芝ナノアナリシス株式会社
- 所在地
- 神奈川県川崎市幸区小向東芝町1番地
- 認証機関名
- 株式会社 日本環境認証機構 (JACO:ジェイコ)
- 登録番号
- WC09J0001
- 規格
- ISO 45001:2018
JIS Q 45001:2018
- 登録日
- 2009-04-07
- 有効期限
- 2027-04-06
- 登録範囲
- 半導体、FPD等の電子部品とこれらの材料及び環境等の分析、評価
ISO 14001 環境マネジメントシステム認証 登録情報
- 組織名
- 東芝デバイス&ストレージ株式会社 グループ
※「姫路分析評価ラボ」は
以下、構成組織名称の範囲に含まれています。
- 構成組織名
- 東芝デバイス&ストレージ株式会社 姫路半導体工場
- 認証機関名
- 株式会社日本環境認証機構 (JACO:ジェイコ)
- 所在地
- 兵庫県揖保郡太子町鵤300番地
- 登録番号
- EC98J2014
- 登録日
- 1996-02-02
- 有効期限
- 2025-08-07
- 規格
- ISO 14001:2015
JIS Q 14001:2015
- 登録範囲
- ディスクリート半導体製品 (小信号デバイス、パワーデバイス、ハイパワーデバイス) の開発・製造
[ 更新日:2024/04/12 ]