【出展します】The Scientific International Symposium on SIMS and Related Techniques Based on Ion-Solid Interactions -24(2025/6/18-20)

東芝ナノアナリシスは、2025年6月18日(水)-20(金)に開催される『The Scientific International Symposium on SIMS and Related Techniques Based on Ion-Solid Interactions -24』にてポスターを出展します。

====出展概要====
日時：6月18日(水)　13:00-18:30
　　　6月19日(木)　9:30-17:20
　　　6月20日(金)　9:30-12:00
場所：イーグレひめじ　4F　会議室3
主催：The Scientific International Symposium on SIMS and Related Techniques Based on Ion-Solid Interactions

◎今回ご紹介する内容
　・放射光トポグラフィーによる欠陥評価
　・STEMと3DAPによるSiC MOSFET複合分析
　・Al合金のGa-FIB・Xe-プラズマFIB加工比較 

参考サイト⇒SISS-24

[ 更新日:2025/06/11 ]