医薬品分析サービス 2 Cryo-FIBを用いたOD錠の断面SEM観察 Cross Sections of OD Tablets Observed by Cryo-FIB-SEM 当社所有のプラズマFIBの特徴 OD錠1)の構造と崩壊メカニズムに関する調査の一環として、今回、水を滴下したOD錠 (崩壊剤含有)の断面を観察することに成功しました。 当社が所有するプラズマFIB(Xeビーム加工)では、断面作製時に試料への熱ダメージを抑えて 加工することができ、また従来のFIB(Gaビーム加工)より広範囲・短時間での加工も可能です。 • Cryo条件下(冷却状態)での断面加工ができ、試料に与える熱ダメージを抑えることが可能 • 高周波誘導プラズマイオン源(Xe)をイオンソースに用いることで、従来のFIB(Ga)より広範囲・高速な加工が可能 • Xeは反応性が低いため、試料を構造変化させにくい 水を滴下したOD錠の断面SEM観察 水(0.05ml)を滴下した崩壊剤含有OD錠を冷却状態で断面加工し、SEM観察を行いました。 での加工では 熱ダメージ(焦げ)が見られません 水滴下領域 断面加工位置 (1) 中央部 (1)中央部 加工・観察イメージ OD錠真上(青矢印)から Xeイオンビームで斜線部を削って断面加工を行い 作製した加工面(赤線部)を 斜め(橙矢印)よりSEM観察しています ※OD錠を真横から見た模式図です 加工 断面 水を滴下した崩壊剤含有OD錠 ＊黒い四角：加工によって開いた穴 水の影響あり 水の影響なし 水滴下領域における断面SEM像 (2)境界部 断面SEM像(中央部) 断面SEM像(境界部) 崩壊剤あり 崩壊剤なし 崩壊剤あり 比較 崩壊剤を含まないOD錠の断面SEM像 (水滴下後) 境界 冷却状態 冷却状態で加工しなかった時の 熱ダメージ(焦げ) ※各SEM像で縦方向に見られる細かい線は加工起因(カーテニング効果)によるものです。 空隙あり 空隙 あり (2) 境界部 100μm 100μm 100μm 1) OD錠(Orally Disintegrating Tablets：口腔内崩壊錠) • 崩壊剤を含むOD錠では、水を滴下 した領域で細かな空隙が増え、 OD錠に崩壊が起きていることが 分かります。 • 崩壊剤を含まないOD錠では、水を 滴下しても、空隙の増加は見ら れませんでした。 FIB加工時間(同一面積での比較) • 従来FIB ： 40時間以上/箇所 • プラズマFIB： 約2時間/箇所 試料ご提供元：昭和大学大学院 薬学研究科 薬剤学分野原田努先生 (科研費基盤研究C) 24-028(1)
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