医薬品向け分析サービス

医薬品向け分析サービス 目 次 顆粒剤コーティング層の観察 錠剤内部の 3 次元 X 線顕微鏡観察 3 次元 X 線顕微鏡によるカプセル内部の塩粒子の粒度分布測定 錠剤内部の非破壊観察 錠剤内部の密度分布 錠剤構成成分の分布 錠剤断面における薬剤成分の分布評価 粒子封じ込め ( コンテインメント ) 性能評価 粒子封じ込め性能評価のサンプリング技術 医薬品製造工程のリスクポイントと薬塵測定例 高活性医薬品製造現場の薬塵汚染調査 抗がん剤の曝露調査サービス ・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・ P2 ・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・ P3 ・・・・・・・ P4 ・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・ P5 ・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・ P6 ・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・ P7 ・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・ P8 ・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・ P9 ・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・ P10 ・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・ P11 ・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・ P12 ・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・ P13 ～ 14 略語 CT EDS EPMA Raman SEM TOF-SIMS : 手法・装置名 : Computed Tomography ( コンピュータ断層撮影 ) : Energy Dispersive X-ray Spectroscopy ( エネルギー分散型 X 線分光 ) : Electron Probe X-ray MicroAnalysis ( 電子プローブ X 線マイクロアナリシス ) : Raman Spectroscopy ( ラマン散乱分光 ) : Scanning ElectronMicroscope ( 走査電子顕微鏡 ) : Time of Flight - Secondary Ion Mass Spectrometry ( 飛行時間型二次イオン質量分析 ) 1