医薬品分析サービス 16 医薬品製剤中の不純物分析 (XRF) Analysis of Impurities in Pharmaceutical Formulation (XRF) 試料分解から測定の流れ 蛍光X線分析結果 医薬品や原料およびその製造過程における元素不純物分析は、リスクアセスメントの観点から 非常に重要です。 当社では、ICP-MSやICP-OESによる元素不純物分析に加え、試料調製が簡便な蛍光X線分析 (XRF)を実施しています。 医薬品の元素不純物ガイドライン(ICHQ3D) では、経口製剤に対し、不純物元素の 許容一日暴露量(PDE)が設定されています。 右の表に示すように、XRFの定量下限値は、 経口製剤におけるクラス1,2Aの許容濃度 限度値以下となり、定量評価が可能である ことが分かりました。 XRF測定 スペクトル例 (意図的に添加した標準・ブランクの比較です) 表面 内部 (断面) 全体 (粉砕後) Hg：5.3ppm Pb：22ppm As：6.4ppm ブランク Cs：8ppm ブランク (cps/mA) (cps/mA) 7 6 5 4 3 2 1 0.18 0.16 0.14 0.12 0.10 0.08 0.06 0.04 0.02 0.00 Pb-LαAs-Kα Hg-Lα Br-Kα Pb-Lβ1 Cd-Kα 10 11 12 20 0 0 X線強度 X線強度 エネルギー エネルギー 定量下限値 錠剤の分析結果例 測定箇所 クラス1(μg/g) ICH Q3Dガイドライン対象外の元素(mass%) Cd Pb As Hg Ti Si MgCaFeZn K Al P 表面 <1.3 <0.8 <0.4 <1.0 5.8 2.6 1.9 0.44 0.27 0.24 0.23 0.07 0.03 内部 <1.3 <0.8 <0.4 <1.0 0.03 0.55 4.0 2.9 0.48 0.29 1.4 0.04 1.6 全体 <1.3 <0.8 <0.4 <1.0 0.07 0.04 3.5 3.3 0.46 0.28 1.2 0.04 1.8 ICH Q3Dガイドライン対象外の元素も分析可能です 元素 クラス PDE (μg/day) 許容濃度 限度値 (μg/g) XRFによる 定量下限値 (μg/g) Cd 1 5 2.5 1.3 Pb 5 2.5 0.8 As 15 7.5 0.4 Hg 30 15 1.0 Co 2A 50 25 1.7 V 100 50 1.7 Ni 200 100 1.1 PDE：Permitted Daily Exposure 各元素のPDE値・許容濃度限度値・XRFの定量下限値例 許容濃度限度値(μg/g)は、オプション2aにて算出しています。 1日の最大摂取量を2gとしています。 24-038
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