各種環境試験槽 超音波顕微鏡による剥離の観察 3次元X線顕微鏡による錠剤の観察 磁場顕微鏡による電流経路の推測 透過X線像 4mm 電流経路像 環境試験 ■ 高温試験 ■ 低温試験 ■ 恒温恒湿試験 ■ 温湿度サイクル試験 ■ プレッシャークッカー/HAST/オートクレーブ試験 ■ 気槽熱衝撃/温度サイクル/気槽定速温度変化試験 ■ 液槽熱衝撃試験 ■ はんだ耐熱性試験 機械強度試験 ■ ワイヤ強度試験・ボール強度試験 ■ 実装後のリード引張り試験 ■ 実装後の基板曲げ試験 ■ 固着強度試験 非破壊検査・解析 ■ 超音波顕微鏡(SAM)観察 ■ 3次元X線顕微鏡観察 ■ 磁場顕微鏡観察 内 容 ■ 表面実装部品のはんだ耐熱性試験 ■ 温度勾配制御による温度サイクル試験 ■ 低温側-65℃/高温側300℃の温度サイクル試験 ■ 半導体製品のワイヤ強度試験 ■ 半導体製品の超音波顕微鏡観察 ■ 3次元X線顕微鏡による材料内部の3次元観察 ■ 医薬品内部の3次元X線顕微鏡観察 ■ 太陽電池の非破壊検査 ■ 電気的ショート不良の磁場顕微鏡解析 ■ 3次元X線顕微鏡によるLED内部の蛍光体の粒度分布測定 事 例 ■ 恒温試験槽(高温・低温) ■ 恒温恒湿試験槽/温湿度サイクル試験槽 ■ 温度サイクル試験槽(気槽式) ■ 熱衝撃試験槽(液槽式) ■ 急速温度変化試験槽 ■ HAST槽 ■ リフロー装置 ■ 万能強度試験装置 ■ 曲げ試験装置 ■ 超音波顕微鏡(SAM) ■ 3次元X線顕微鏡 ■ 磁場顕微鏡 主要設備 試験所認定(ISO/IEC 17025)を取得しており 管理された環境で信頼できる試験結果をご提供します 信頼性・非破壊観察 9 Toshiba Nanoanalysis ゴ ’ 7~77J72-: . • • [> >• •· •0.oo-·0-•o ) a r. ＇ ， I r,,r -T : - , ,9 .， ク名 委 l` ‘. 9} ＜‘`•I /'／ク、そ -ly`7¥ ‘も ． ，ヽ． ． r,2' 、ヽ．、ヽ' 『r1 ’9 ]』 : I n 、芯‘心李房，／ク 9/／ . . 。ー・・ a
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