飛行時間型二次イオン質量分析(TOF-SIMS) 目 次 飛行時間型二次イオン質量分析(TOF-SIMS) TOF-SIMSによる有機薄膜の構造分析 TOF-SIMSによる有機ELディスプレイの分析 TOF-SIMS分析の微小・凹凸表面への応用 高濃度マトリックス中に含まれる微量成分の分析 有機薄膜の深さ方向分析 ・・・・・・・・・・・・・・・・・・ P2～P3 ・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・ P4 ・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・ P5 ・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・ P6 ・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・ P7 ・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・ P8 1
RkJQdWJsaXNoZXIy NDY3NTA=