非破壊観察 事例1 プリント基板配線パターン内の電流経路観察 電子部品の相互接続に使用されるプリント基板において、配線パターンに流れる電流経路を可視化することは、 電気的なショート箇所の特定に役立ちます。 事例2 パワーデバイスのショート箇所の絞り込み パワーデバイスは、パッケージを開封すると電気特性が変動してしまい、不具合箇所の特定が困難になる場合 があります。 磁場顕微鏡を用いれば、パッケージを開封せずに試料内部の電流経路を推測・可視化でき、 不具合箇所を絞り込めます。 推定ショート箇所 推定ショート箇所 重ね合わせ像(電流経路像+超音波顕微鏡像) 推定ショート箇所 推定ショート箇所 Z方向磁場(Hz) を基に作成した電流経路像 (明るい部分が電流経路) 過電圧により破壊したパワーデバイスのショート箇所を、パッケージ開封せずに絞り込みました。 3 17-216a(6) Ｚ方向磁場像(Hz) 推定電流像(方向) ↑：青、↓：赤 ←：青、→：赤 基板配線パターン 電流像 V X Y
RkJQdWJsaXNoZXIy NDY3NTA=