太陽電池の分析・解析Analytical Applications for Photovoltaic Cell

太陽電池セルの解析から原材料の分析・解析をご提供します。

太陽電池における解析目的と手法

測定対象 目的 分析・解析内容 手法
セル テクスチャー構造観察 形状観察(表面) OM・SEM・AFM・共焦点顕微鏡
パッシべーション膜・反射防止膜の観察 形状観察(断面) SEM・TEM
元素分析 EDS・EELS・XPS
ドーパントの分析 拡散形状の観察 SCM
ドーパント種分析 SIMS
結晶欠陥の観察 結晶欠陥 EL・XRD・TEM
表面/裏面電極の観察 形状観察(断面) SEM・TEM
元素分析 EDS・EELS・EPMA・XPS
配線状態 密着性評価 SAM・SAT・3次元X線顕微鏡(X線CT)
形状観察(表面・断面) OM・SEM・AFM・共焦点顕微鏡
配線材質 配線材料定性分析 EPMA、µXRF
電気特性 I-V特性 パラメトリックアナライザー
原材料 Siバルク材料の不純物分析 元素分析(定性・定量) ICP-MS・SIMS・AAS・IC・ガス分析(C,O,N)
ドーパントの分析 拡散形状の観察 SCM
ドーパント種分析 SIMS
結晶欠陥の観察 結晶欠陥 EL・XRD・TEM
Siウェーハの不純物分析 元素分析(定性・定量) ICP-MS・SIMS・AAS・IC・ガス分析(C,O,N)
有機物付着 FT-IR・GC/MS・TOF-SIMS・Raman
脱ガス挙動 TDS
有機材料の分析 構造解析 FT-IR・Raman・GC/MS
物性評価 DSC・TG-DTA
ガス材料の分析 元素分析(定性・定量) FT-IR・GC/MS

上記以外の解析手法もご用意しています。

EL像
EL像
SCM像
SCM像
断面SEM像
SEM像

[ 更新日:2022/03/30 ]

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