トピックス・お知らせ

【出展しました】2017FLEX Japan

東芝ナノアナリシスは、2017年4月11日〜12日に開催された『2017FLEX Japan』に出展いたしました。

今回は『 磁場顕微鏡などの非破壊解析装置を組み合わせて解析した事例』のご紹介でした。

来場いただいた皆様には、厚く御礼申し上げます。

当日のご説明が行き届かなかったかと思いますが、今回ご紹介させていただいた技術以外の分野にご興味をお持ちの場合など、どのようなことでもお気軽にお問い合わせください。

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