略語集

略語集
略語 英語【手法・装置】 日本語
3DAP(APT) 3 Dimensional Atom Probe 3次元アトムプローブ
4PB 4 Point Bending Test 4点曲げ試験
AAS Atomic Absorption Spectrometry 原子吸光分析
AEM Analytical Electron Microscope 分析電子顕微鏡
AES Auger Electron Spectroscopy オージェ電子分光
AFM Atomic Force Microscope 原子間力顕微鏡
APT(3DAP) Atom Probe Tomography 3次元アトムプローブ
CBED Convergent Beam Electron Diffraction 収束電子線回折
CL Cathode Luminescence カソードルミネッセンス
CPC Condensation Particle Counter 凝縮核計数器
DSC Differential Scanning Calorimetry 示差走査熱量測定
EBSD Electron Backscatter Diffraction (Pattern) 電子後方散乱回折(パターン)
EDS Energy Dispersive X-ray Spectroscopy エネルギー分散型X線分光
EELS Electron Energy Loss Spectroscopy 電子エネルギー損失分光
EPMA Electron Probe X-ray MicroAnalysis 電子プローブX線マイクロアナリシス
ERDA Elastic Recoil Detection Analysis 弾性反跳粒子検出分析
ETAAS Electrothermal Atomic Absorption Spectrometry 電気加熱原子吸光分析
FIB Focused Ion Beam 集束イオンビーム
FL-AAS Flameless - Atomic Absorption Spectrometry フレームレス原子吸光分析
FT-IR Fourier Transform - Infrared Spectroscopy フーリエ変換赤外分光
GC Gas Chromatography ガスクロマトグラフィー
GC/MS Gas Chromatography / Mass Spectrometry ガスクロマトグラフィー質量分析
GC/MS/MS Gas Chromatography / Tandem Mass Spectrometry ガスクロマトグラフィータンデム質量分析
GD/MS Glow Discharge / Mass Spectrometry グロー放電質量分析
HAXPES Hard X-ray Photoelectron Spectroscopy 硬X線光電子分光
IAMS Ion Attachment Mass Spectrometry イオン付着質量分析
IC Ion Chromatography イオンクロマトグラフィー
ICP-MS Inductively Coupled Plasma - Mass Spectrometry 誘導結合プラズマ質量分析
ICP-OES Inductively Coupled Plasma - Optical Emission Spectrometry 誘導結合プラズマ発光分光分析
LC Liquid Chromatography 液体クロマトグラフィー
LC/MS Liquid Chromatography / Mass Spectrometry 液体クロマトグラフィー質量分析
LC/MS/MS Liquid Chromatography / Tandem Mass Spectrometry 液体クロマトグラフィータンデム質量分析
LC/TOF-MS Liquid Chromatography / Time of Flight Mass Spectrometry 液体クロマトグラフィー飛行時間型質量分析
NBD Nano Beam Electron Diffraction ナノビーム電子回折
NMR Nuclear Magnetic Resonance 核磁気共鳴
m-ELT modified - Edge Liftoff Test 改良型エッジリフトオフ
OBIRCH Optical Beam Induced Resistance Change 光ビーム加熱抵抗変動
OM Optical Microscope 光学顕微鏡
PEM(EMS) Photo Emission Microscope エミッション顕微鏡
PVC Passive Voltage Contrast 電位コントラスト
Py-GC/MS Pyrolysis - Gas Chromatography / Mass Spectrometry 熱分解ガスクロマトグラフィー質量分析
REELS Reflection - Electron Energy Loss Spectroscopy 反射電子エネルギー損失分光
RBS Rutherford Backscattering Spectroscopy ラザフォード後方散乱分光
rf-GD-OES rf - Glow Discharge - Optical Emission Spectroscopy 高周波グロー放電発光分光分析
RIE Reactive Ion Etching 反応性イオンエッチング
Raman Raman Spectroscopy ラマン散乱分光
SAM Scanning Acoustic Microscope 超音波顕微鏡
SAT Scanning Acoustic Tomography 超音波断層撮影
SAXS Small Angle X-ray Scattering X線小角散乱
SCM Scanning Capacitance Microscope 走査型静電容量顕微鏡
SEC Size Exclusion Chromatography サイズ排除クロマトグラフィー
SEM Scanning Electron Microscope 走査電子顕微鏡
SIMS Secondary Ion Mass Spectrometry 二次イオン質量分析
SPM Scanning Probe Microscope 走査型プローブ顕微鏡
STEM Scanning Transmission Electron Microscope 走査透過電子顕微鏡
TCD Thermal Conductivity Detector 熱伝導度検出器
TD-GC/MS Thermal Desorption - GC/MS 熱抽出・ガスクロマトグラフィー質量分析
TDS Thermal Desorption Spectroscopy 昇温脱離ガス分析
TED Transmission Electron Diffraction 電子線回折
TEM Transmission Electron Microscope 透過電子顕微鏡
TG-DTA Thermogravimetry - Differential Thermal Analysis 熱重量・示差熱同時分析
TG/MS Thermogravimetry / Mass Spectrometry 熱重量質量分析
TLC Thin Layer Chromatography 薄層クロマトグラフィー
TMA Thermomechanical Analysis 熱機械分析
TOC Total Organic Carbon Analysis 全有機炭素分析
TOF-SIMS Time of Flight - Secondary Ion Mass Spectrometry 飛行時間型二次イオン質量分析
TPD/MS Temperature Programmed Desorption / Mass Spectrometry 加熱発生ガス質量分析
UMT Ultramicrotome ウルトラミクロトーム
UV/VIS Ultravaiolet / Visible Spectroscopy 紫外可視分光
WDS Wavelength Dispersive X-ray Spectroscopy 波長分散型X線分光
XPS X-ray Photoelectron Spectroscopy X線光電子分光
XRD X-ray Diffraction X線回折
µXRD Micro Area X-ray Diffraction 微小部X線回折
XRF X-ray Fluorescence Spectrometry 蛍光X線分析
µXRF Micro Focused X-ray Fluorescence Spectrometry 微小部蛍光X線分析
XRR X-ray Reflectometry X線反射率測定

[更新日:2017/07/10]

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